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高光譜影像系統│Hyperspectral Widefield Imaging│Photon etc.

可見光-紅外高光譜成像系統GRAND-EOS™
紅外高光譜相機S-EOS™
高光譜相機V-EOS™

應用領域│材料研究、鑑識科學、贗品檢驗、糧食與作物、藝術品

可見光-紅外高光譜成像系統 GRAND-EOS™

GRAND-EOS™是一款可以在400 nm至1000 nm和900 nm至1620 nm之間連續可調的高光譜成像系統。

可以根據應用和樣品量調整視場大小,同時具備放大倍率5×和10×的Micro-imaging模式。

GRAND-EOS™採用Global-imaging成像技術產生XY軸空間訊息和Z軸光譜訊息的高光譜多維數據(data-cube),無須透過圖像重建即可從data-cube中萃取所需的數據。

GRAND-EOS™專為反射、穿透和發光成像而設計,非常適合基礎研究和工業應用。

 

GRAND-EOS™應用│矽基太陽能電池

矽基太陽能電池大約佔全球太陽能板90%的市場,是一種使用壽命長的可靠技術,但是這一代的太陽能電池仍面臨製程與放大的挑戰。深入瞭解其損耗機制可以幫助優化太陽能電池的生產,同時也有機會發展為在室內收集能量。

一個好的太陽能電池需要盡可能的發光[1]。光致發光(PL)或電致發光(EL)是快速評估非輻射損耗以及取得材料效率輸入的方法。IMA和GRAND-EOS高光譜成像系統提供在幾百個平方微米到平方公分視場下PL和EL光譜與空間資訊。美國國家標準技術研究院(NIST)的Behrang Hamadani博士[2]在此研究中使用GRAND-EOS進行絕對EL測量用於研究太陽能電池的外部輻射發射率。圖1是在2 cm x 2 cm視場下矽元件的EL影像,顯示出元件上細微的不均勻性。

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[1] Miller, O. D., Yablonovitch, E., & Kurtz, S. R. (2012). Strong Internal and External Luminescence as Solar Cells Approach the Shockley–Queisser Limit. IEEE Journal of Photovoltaics, 2(3), 303–311.

[2] Hamadani, B. H. (2020). Understanding photovoltaic energy losses under indoor lighting conditions. Applied Physics Letters, 117(4), 043904.

圖1. 矽元件的EL影像。高光譜數據中 a) 1040 nm和 b) 1140 nm的電致發光影像

 

紅外高光譜相機S-EOS™

S-EOS™是一款可以在900 nm至1620 nm或從900 nm至2500 nm範圍內連續可調的高光譜相機,視場大小可以根據應用或樣品需求調整或客製化,或升級放大倍率5×和10×的Micro-imaging模式。S-EOS™採用Global-imaging成像技術產生XY軸空間訊息和Z軸光譜訊息的高光譜多維數據(data-cube),無須透過圖像重建即可從data-cube中萃取所需的數據。

S-EOS™專為反射、穿透和發光成像而設計。

 

 

高光譜相機V-EOS™

V-EOS™是一款可以在400至1000 nm範圍內連續可調的高光譜相機,視場大小可以根據應用或樣品需求調整或客製化,或升級放大倍率5×和10×的Micro-imaging模式。

V-EOS™採用Global-imaging成像技術產生XY軸空間訊息和Z軸光譜訊息的高光譜多維數據(data-cube),無須透過圖像重建即可從data-cube中萃取所需的數據。

V-EOS™專為反射、穿透和發光成像而設計。

 

 

HyperCube™

HyperCube™是可以在VIS、NIR和SWIR光譜範圍內連續可調的高光譜濾波器,適用在商業型正立或倒立式顯微鏡,且搭配標準相機和激發組件。HyperCube™基於高通量布拉格光柵分光技術,因此非常適合發光、暗場和明場高光譜成像。

[註] 請提供您的顯微鏡或相機的廠牌型號,我們會為您確認HyperCube™的適用性。


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Global imaging成像技術介紹

 

              

 

影片說明高光譜Global imaging和線掃描之間的概念差異。

借助Global imaging獲取三維數據、二維空間和一維光譜資訊,只需要幾個波段的影像即可覆蓋整個光譜範圍。

比起其他像是單點或線掃描技術必須掃描完整個影像而言,Global imaging具備快速且優秀的表現。

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