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可調式雷射─光源濾光片/高解析光源/光激發高光譜影像顯微鏡

以體積布拉格光柵(Volume Bragg Grating)為基礎,作為非分散式的Band-pass濾光片,Photonetc 設計生產的LLTF(Laser Line Turnable Filter)系統,相較於使用狹縫的分散式系統,提供OD>6以上的光學密度(Optic Density)。可以將選擇波段以外的訊號降至-60dB以下,同時涵蓋400至2500nm的光譜範圍。結合超連續雷射光源與光學顯微鏡,可以擴充成可調式雷射光源TLS與可調式雷射激發影像顯微鏡LIMA。

LLTF─Laser Line Tunable Filter

LLTF的核心為體積布拉格光柵(VBG),藉由不同的入射角度與光柵旋轉角度之間的關係,使符合布拉格公式的波長穿透或反射來達到波長選擇的效果。

可選擇波長範圍:400 - 1000nm / 1000-2300nm / 400 – 2300nm

可擴充至2500nm

可固定特定的波長並使解析度達到0.15 – 0.9nm

可擴充光纖連接器

TLS─Tunable Laser Source

TLS由LLTF與超連續雷射光源(Supercontinuum laser source)組成,藉由這種方式可以提供廣域燈源無法提供的激發強度以及頻率,同時還維持小於1nm的光譜解析度。

幾個典型的應用:

光譜:Pump-probe(瞬態吸收)、PL(光激發光)、PLE(光激發電)、LBIC(雷射誘導電流)等。

高光譜暗場影像與光激螢光影像

光感應偵測器,例如CCD、cMOS等陣列偵測器與PMT、InfraRed Diode單像素偵測器的校正

癌細胞組織的反射量測研究

LIMATM

結合TLS、光學顯微鏡與陣列式偵測器的LIMATM,連續可調的波長,高密度照亮在顯微鏡下整個視野(Full Of View)的範圍,提供400-2500nm的高光譜解析度,取得範圍內的暗場(dark field)、光激放電(PLE)或標準明場(Bright field)反射與穿透影像,相對於逐點拼圖或線掃等方式,可以更快取得樣品表面的全範圍影像,這對於即時分析大範圍材料的光電性質與空間均勻度是非常理想的分析平台。

 

VIS

SWIR

eSWIR

VIS-SWIR

激發波長範圍

400-1000nm

900-1620nm

1000-2500nm

400-1620

激發波長步徑

1.5 – 2.5nm

3.0 – 5.0nm

<5.0nm

1.5 – 5.0nm

激發波長選擇

連續可調

帶外阻隔力*

< -60 dB @ ± 40 nm

< -60 dB @ ± 80 nm

< -60 dB @ ± 80 nm

< -60 dB @ ± 40 nm (VIS) or ±80 nm (SWIR)

光源輸出功率

2 – 4mW

3 – 9mW

0.5 – 8.0mW

2 – 9mW

光照效果

高效均勻照明;穿透(Dia)、反射(Epi)照明;明場;暗場

空間解析度

次微米等級,依據顯微鏡物鏡的NA值決定

偵測器

類型

cMOS

可選配

CCD或EMCCD

InGaAs

HgCdTe

sCMOS加上

InGaAs或HgCdTe

顯微鏡

選擇

正立式或倒立式分析級顯微鏡

白光照明選擇

下方透射、上方反射、汞燈或鹵素燈

*Out of Band Rejection

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