單一光源實現多元素快速順序分析
Analytik Jena特製短弧氙燈(Xenon short arc lamp)提供連續發射光譜，光譜波長範圍185-900nm。傳統原子吸收光譜儀分析一種元素就需要一支燈管，連續光源AAS分析不同元素的時候不用換燈管，僅使用特製短弧氙燈即可完成多種元素分析。特製短弧氙燈的光強度高於傳統中空陰極燈，因此提高訊噪比進而優化檢測極限與準確度。
contrAA 800 F 火焰式原子吸收光譜儀
contrAA 800 G 石墨爐原子吸收光譜儀
contrAA 800 D 火焰式+石墨爐原子吸收光譜儀
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contrAA 800 F 火焰式原子吸收光譜儀 |
contrAA 800 G 石墨爐原子吸收光譜儀 |
contrAA 800 D 火焰式+石墨爐原子吸收光譜儀 |
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Multi Element |
單一光源實現多元素快速順序分析 Analytik Jena特製短弧氙燈(Xenon short arc lamp)提供連續發射光譜，其光強度高於傳統空心陰極燈，因此提高訊噪比進而優化檢測極限與準確度。
Analytik Jena電弧氙燈-連續發射光譜 Audemars Piguet Royal Oak Tourbillon Replica
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High-Resolution Optics |
高解析度光學元件 高解析度光學元件和CCD檢測器提供樣品高解析度的吸收光譜 超高光譜解析度：0.002nm @200nm 優異的波長準確度和重複性(≤0.0001nm) 可用淨化空氣或者氬氣吹掃光室改善紫外區的光通量，進一步改善檢出限 光學系統具有防護塗層且特殊密封，耐受惡劣環境
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HD Spectrum |
HD光譜 高解析度光譜提供有關樣品的全面且極其詳細的資訊。它們在3D光譜中的三維顯示允許正確評估吸收線及其光譜背景。此外，還提供了有關樣品中其他元素的其他資訊，如果需要，可以同時進行量化。因此，光譜還為方法開發提供了有價值的工具。 軟體工具有助於數據評估。自動背景校正程式通過基線評估校正光譜背景和燈強度波動。使用矩陣校正光譜可以輕鬆校正直接光譜干擾。所有必要的校正都直接在光譜中同時進行。
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Dynamic Mode |
contrAA® 800的動態範圍與ICP-OES儀器相當 動態模式允許根據樣品中遇到的濃度自動或手動調節儀器的動態工作範圍。它可以在高達五個order的濃度範圍內進行校正。這允許使用單一方法測量同一樣品中的超微量元素和主要元素。因此contrAA ®提供類似ICP-OES儀器的動態範圍。 多次樣品稀釋是過去的問題，即使沒有可用的二次波長，也可以適應更高的濃度。 |
